| 行业 | 检测对象 | 可靠性试验项目 | 试验标准 | 严酷等级 | 解决方案 |
| IGBT模块 IPM模块 SIC |
| 温度循环TC | JESD22-A104 | 175℃~-65℃ 50cycle/100cycle/1000cycle | 温度循环试验箱TC |
| 低温存储试验LTSL | JESD22-A11 | -55℃ 168h/500h/1000h | 低温试验箱LTS | ||
| 高温存储试验 HTS | JESD22-A103C | 150℃ 168h/500h/1000h | 高温试验箱HTS | ||
| 稳态湿热试验 THB | JESD22-A101C 5 | 85℃/85%RH 168h/500h/1000h | 稳态湿热试验箱STH | ||
| 高温高湿压 H3TRB | AEC -Q101 JESD22A-101 | 85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h/1000h | 高温高湿反偏试验系统H3TRB | ||
| 高温反偏HTRB | JESD22-A108 | 175℃/125℃/VRRM*80%/Tj（max）168h/500h/1000h | 高温反偏试验系统HTRB | ||
| 高温栅反偏试验HTGB | JESD22A-108 AEC-Q101 | 175℃/150℃/VRRM*100%/Tj（max） 168h/500h/1000h | 高温栅偏试验系统HTGB | ||
| 高压加速寿命试验PCT | JESD22-A11 | 121℃/100%RH/2atm 96h/168h | 高压蒸煮试验箱PCT | ||
| 高加速老化试验 | JESD22-A110 | 130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h | 高加速寿命试验箱HAST | ||
分 立 器 件 | | 温度循环(TCT) | GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D | 150℃~-55℃/-40℃ 50cycle/100/1000cycle | 温度循环试验箱TC |
| 低温存储试验LT | JESD22-A11 | -55℃ 168h/500h/1000h | 低温试验箱LTS | ||
| 高温存储试验 HTS | JESD22-A103C | 150℃ 168h/500h/1000h | 高温试验箱HTS | ||
| 高温反偏 | GB/T 15291-1994 6.2 JESD22-A108C | VRRM*80%/Tj（max） 168h/500h/1000h | 高温反偏试验系统HTRB | ||
| 恒温恒湿(H3TRB) | GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C | 85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h | 高温高湿反偏试验系统H3TRB | ||
| 高加速耐湿及偏压BHAST | GB/T 4937.4-2012 JESD22-A110D | 130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h | 高加速耐湿偏压试验系统BHAST | ||
| 高压蒸煮(PCT) | JESD22-A102-C | 121℃/100%RH/2atm 96h/168h | 高压蒸煮试验箱PCT |
