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低温试验箱

低温试验箱

低温试验箱LTS是一种重要的测试类型,它用于评估产品在低温环境下的性能和可靠性。这种试验不仅涉及到产品的长期存储,还包括了运输和使用过程中的适应性。通过低温贮存试验,可以确定产品在极端的低温环境下是否能够正常工作,以及在低温环境下是否会受到损。 在半导体器件应用中,低温贮存试验不仅用于产品的开发阶段,还用于元器件的筛选试验。

产品型号AS-LTS-AAS-LTS-BAS-LTS-CAS-LTS-DAS-LTS-E
箱体尺寸
试验箱内容积升(L )1002254088001000
内箱尺寸mm宽(W)50060060010001000
高(H)50075085010001000
深(D)4005008008001000
外箱尺寸(mm)宽(W)823900126513001300
高(H)15801700172019901990
深(D)12801340109017001910
温度参数
测试最低温度-70
    ( 0-20-40-60-70 低温段可选
降温速率(平均)℃/min0.7~1.2
温度分布均匀度≤ 2.0
温度波动度± 0.5
温度偏差≤ 2.0
供电和连接
额定电压VAC 220V ±10% 50Hz
最大功率KW4.796.68.210.915.6
最大电流A12.314.815.721.729
声压级dB(A)5858666670
执行标准:

IEC60068-2-1/ GB/T2423.1-2008:《电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验A:低温》

 JESD22-A101  IEC68868-3-5


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