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    半导体行业
    当今,无论是各路资本争相进入的AI行业还是已经引起多国政府关注的5G技术,这一切离不开半导体的支持。在我们越来越依赖半导体的同时,又对它们的安全性和工作寿命提出了更高的要求。那么我们又如何预知它们的寿命呢?答案只有一个:模拟和筛选。安而森有着各类符合行业最高标准的环境试验设备和老化设备为您提供判断依据,让您的产品出厂无忧。 安而森:模拟环境,感知未来。
检测对象Reliability TestTest Std.Test Conditions
可靠性试验项目试验标准试验条件
功率半导体器件温度循环 TC
(Temperature Cycle)
JESD22-A104Condition B:-40℃~125℃/-55℃~125℃,1000 cycles, C-SAM at 100cycle interval
低温存储试验LT
(Low Temperature Storage CONFIDENTIAL Life)
JESD22-A11Storage temp.:-55±5℃ Test Duration:1000 hours
高温存储试验 HTS
(High Temperature Storage)
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 2
GB/T 2424.19-2005
JESD22-A103C
Temperature: 125/150/175°C Test Duration:168/500/ 1000hours
稳态湿热试验 STH
Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
JESD22-A101C 5Temperature: 85°C Humidity:85%RH Test Duration: 1000hours
高温高湿偏压 H3TRB
(High Humidity, High Temperature Reverse Bias)THB
AEC -Q101
JESD22A-101
Temperature: 85°C Humidity:85%RH Bias:3000V Test Duration: 1000hours
高温反偏HTRB
(High Temperature Reverse Bias)
JESD22-A108Ta = 125˚C/150˚C, Bias:3000V Test Duration: 1000hours
高温栅反偏试验HTGB
(High Temperature Gate Bias)
JESD22A-108
AEC-Q101
1000 hours at Ta = 150˚C, with gate biased to 100% of max gate voltage rating with device biased OFF
间歇工作寿命IOL
(Intermittent Operational Life)
 JESD22-A122 6,000 Cycles, devices powered to insure Δ Ta ≥ (2min on and 2min off).
高压加速寿命试验PCT
(High Pressure Accelerated Life Test)
JESD22-A11Ta=121˚C /100%RH Test Duration: 96hours
高加速老化试验 
HAST(Highly Accelerated Stress Test)
JESD22-A110 Ta =130℃, 85% RH, 230Kpa, Vds=80%Spec(42V max) Test Duration: 96hours
不偏压高速老化
UHAST (Unbiased Temperature/Humidity)
JESD22-A110Ta =130℃, 85% RH, Test Duration: 96hours
盐雾腐蚀试验
SST(Salt fog corrosion test)
GBT2423.17-93Salt solution:35±2℃ PH=6.5~7.2 Test Duration: 96hours;
CASS test:49±℃ PH=3.0~3.1  Test Duration: 48 hours


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