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高温栅偏试验系统HTGB

高温栅偏试验系统HTGB

高温栅偏试验系统HTGB是将被测量元件放置在一定的环境温度中,给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检测每个材料的漏电流、电压,并根据预先设定,当被测材料实时漏电流超过设定值时,自动切断被测材料上的电压,可以保护被测元件不会进一步烧毁。适用于MOSFET和IGBT在指定的TJ 下1000小时。

         高效率:老化座匹配市面各种封装。单通道80颗容量,直拔直插,插板检测。

         高精度:1nA~20mA漏电检测,nA级精度,实时监控,过程可视化

         高兼容:16个通道,多规格产品自由分配。

         高可靠:苛刻选料:优质的控制器、密封条、把手铰链、老化座、老化板选料

         高安全:开门断电、强弱电物理隔离、ESD静电防护

         高稳定: 9点式温度均匀性检测法验证,多点传感器,无死角自动化监控。

         箱体材质:测试区内箱SUS#304不锈钢板,外箱粉体烤漆。

         保温材质:保温绝缘层耐燃防火 PU + 隔热玻璃棉。

         箱  门:全开单翼型,带有双层硅橡胶密封和门锁。

         老化板:聚酰亚胺(Polymide)板材,Tg260℃。

         配置彩色液晶触摸显示器、Windows 7中文 32位正版

         试验数据可采集,数据采样率可设置                                  

         插板检测、击穿保护                               

         输出报表                                                            

         数据自动备份功能。                                                      

         通信方式:RS-232 (可选配:RS-485)



         漏电断路器安全保护                                                                  

         上下限温度报警                                                                      

         超温保护设定器                                                                   

         意外断电时系统自动切断总电源 

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