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高温栅偏试验系统HTGB是将被测量元件放置在一定的环境温度中,给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检测每个材料的漏电流、电压,并根据预先设定,当被测材料实时漏电流超过设定值时,自动切断被测材料上的电压,可以保护被测元件不会进一步烧毁。适用于MOSFET和IGBT在指定的TJ 下1000小时。
• 高效率:老化座匹配市面各种封装。单通道80颗容量,直拔直插,插板检测。
• 高精度:1nA~20mA漏电检测,nA级精度,实时监控,过程可视化
• 高兼容:16个通道,多规格产品自由分配。
• 高可靠:苛刻选料:优质的控制器、密封条、把手铰链、老化座、老化板选料
• 高安全:开门断电、强弱电物理隔离、ESD静电防护
• 高稳定: 9点式温度均匀性检测法验证,多点传感器,无死角自动化监控。
• 箱体材质:测试区内箱SUS#304不锈钢板,外箱粉体烤漆。
• 保温材质:保温绝缘层耐燃防火 PU + 隔热玻璃棉。
• 箱 门:全开单翼型,带有双层硅橡胶密封和门锁。
• 老化板:聚酰亚胺(Polymide)板材,Tg260℃。
• 配置彩色液晶触摸显示器、Windows 7中文 32位正版
• 试验数据可采集,数据采样率可设置
• 插板检测、击穿保护
• 输出报表
• 数据自动备份功能。
• 通信方式:RS-232 (可选配:RS-485)
• 漏电断路器安全保护
• 上下限温度报警
• 超温保护设定器
• 意外断电时系统自动切断总电源
产品型号 | AS-HTGB-T08 | AS-HTGB-R16 | AS-HTGB-W32 | AS-HTGB-R08B | |
箱体尺寸 | |||||
试验箱内容积 | 升(L ) | 91 | 216 | 432 | 216 |
内箱尺寸(mm) | 宽(W) | 450 | 600 | 600 | 600 |
高(H) | 450 | 600 | 1200 | 600 | |
深(D) | 450 | 600 | 600 | 600 | |
外箱尺寸(mm) | 宽(W) | 720 | 1360 | 1500 | 1360 |
高(H) | 1620 | 1815 | 1815 | 1815 | |
深(D) | 1060 | 1320 | 1320 | 1320 | |
技术参数 | |||||
适用器件 | 适用于单管或单桥封装的MOSFET、SCR、IGBT | 桥堆IGBT模块 | |||
高温温度范围 | RT+10~200℃ | ||||
试验通道 | 8 个 | 16 个 | 32 个 | 4 个 | |
试验容量 | 80×8=640 位 | 80×16=1280 位 | 80×32=2560 位 | 20×8=160 位 | |
电源数量 | 4台 | 8台 | 16 台 | 8台 | |
试验电源 | 输出范围:0~35V或0~60V | ||||
控制系统 | 12.1英寸彩色液晶显示器 | ||||
老化板 | 根据用户要求选配,标配基板Tg =260℃ ,特殊高温可按要求定制; | ||||
电气配置 | 单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW | ||||
选配功能 | |||||
开门断电 | 可选配 | ||||
单工位断电保护 | 可选配 | ||||
双箱体分区控温 | 可选配 | ||||
执行标准: | |||||
符合JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101 |
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