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间歇寿命试验系统IOL适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。
• 在试验的过程中实时测量样品的结温，并显示结温差
• 采用模块化设计，每个模块是一个独立试验单元。每个模块有独立的试验腔体，真正做到板与板之间完全独立。每个试验单元的风道互不影响
• 在调试模式下，无论是开通状态还是关断状态下，均可以每隔一秒采集一次结温Tj，描绘出完整的温度变化曲线。可以防止在寻找试验条件时损坏器件
• 三极管的试验线路采用共基极试验线路，更能满足宇航级产品的试验要求
• 设备上可配置K系数测试装置
• 箱体材质：测试区内箱SUS#304不锈钢板,外箱粉体烤漆。
• 老化板：聚酰亚胺（Polymide）板材，Tg260℃。
• 工控机配置：研华工业计算机，触控屏液晶显示屏。
• 工控机的配置是：I5的CPU、1T硬盘、8G内存。
• 软件配置：Windows 7中文 32位、间歇寿命试验系统测控软件
• 主要功能：运行控制、插板检测、数据检测记录、报表输出。
• 断电保护
• 过温保护
• 烟雾报警
• UPS电源
| 产品型号 | AS-IOL-Z08 | AS-IOL-Z16 | |
| 箱体尺寸 | |||
| 外箱尺寸（mm） | 宽（W) | 1140 | 1620 |
| 高（H) | 1820 | 1820 | |
| 深（D) | 1060 | 1320 | |
| 技术参数 | |||
| 适用器件 | 串联通道:主要用于SI/SIC/GaN材料的Diode/IGBT/MOSFET/SCR/IPM测试。并联通道:主要用SI/SIC/GaN材料的MOSFET/IGBT、三极管测试。 | ||
| 试验通道 | 8 个 | 16个 | |
| 试验容量 | 48×8=384 位 | 48×16=768位 | |
| 基本功能 | ①每个通道提供一组独立程控电源。 | ||
| ②对于三极管、MOSFET器件试验，可提供部分工位Tj检测或全部工位Tj检测。二极管试验提供全部工位Tj检测。 | |||
| ③对于二极管，每工位试验电流范围为0〜15A，并联后最大可提供60A试验电流。MOSFET及IGBT器件试验每工位18W试验功率。只需减少试验工位，就可增加器件的试验功率。 | |||
| ④可使用外部电源。如配置TDK、安捷伦等品牌电源。 | |||
| 基本配置 | 并联模式：每个试验单元含一台 48V/33.5A电源、一套测试电流发生装置、一套控制监测板、一套风冷系统、一块老化板等。 | ||
| 串联模式：每个试验单元含一台 24V/67.5A电源、一套测试电流发生装置、一套控制监测板、一套风冷系统、一块老化板、一套电子负载等。 | |||
| 老化板 | 老化板采用子母板的方式,只需更换子板即可试验不同封装的器件。 | ||
| 控制系统 | 12.1英寸彩色液晶显示器 | ||
| 电气配置 | 单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，3KW | 单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW | |
| 测试标准： | |||
| 1、符合美国MIL-STD-750 Method 1037、1042标准。 2、符合AEC-Q101 标准的要求。 3、符合GJB128标准的要求。 | |||
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