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高加速耐湿偏压试验系统

高加速耐湿偏压试验系统

高加速耐湿偏压试验系统BHAST该试验通过温度、湿度、大气压力加速条件的同时对器件施加偏置电压,评估各种封装器件在上电状态下,在高温、高压、潮湿环境中的漏电表现及可靠性。

产品型号AS-BHAST-Z05
箱体尺寸
电控柜尺寸 ( W×H×D)700×1810×1200
环境箱 内箱尺寸&(有效尺寸)
   
mm
直径420 Dia(340Dia)
深( D )657 Depth(475Depth)
环境箱外箱尺寸
    ( mm )
宽(W)709
高(H )1674
深(D )950
技术参数
温度范围105~ +150
湿度范围%RH65~100
压力范围Mpa0.019~0.208
温度波动度≤±0.5
分布精度±0.5℃(at 100%RH)& ±1℃ (at 85%RH)
电源数量2
通道数量5
试验容量80×5=400
老化板
根据用户要求选配,聚酰亚胺(Polymide)板材,Tg260℃;表面喷涂三防漆
电源规格V多规格可选
适用范围各种封装二极管、半桥、三极管、可控硅、IGBT、DIODE、MOSFET、HEMT、BJT、SCR
供电和连接
电气配置单相三线AC220V±10% 50HZ 7KW
执行标准:
IEC60068-2-78/ GB/T2423.3-2016: 电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热方法》
    IEC60068-2-66/ GB/T2423.40-2013:
《环境试验 2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热》
    IEC60749-33, JESD22-A102


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