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通过提高环境应力（温度）与工作应力（电压）加快实验过程，缩短产品寿命时间，评估器件在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力（相比于THB,温度增加，压力增大，实验的时间可以缩短，加快试验的进程）。
适用的研发和工艺改进 1、高温扩散工艺技术的改进（重点是高温长时间扩散，如隔离扩散）包括可能引起硅片内部隐裂的工艺技术改进
2、包封工艺技术、框架处理工艺技术的改进
3、塑封料、框架的变更
4、新产品（含新的封装结构）
5、封装工艺过程中的污染
工控机配置：
随机配置工业计算机，显示屏为12寸液晶显示屏。
工控机配置：CPU/主板：Intel ATOM D2700MUD（低功耗，无需风扇，可靠度高）
硬盘：ADATA威刚128G固态硬盘
内存：Kingston 4G DDR3
机箱及电源：工控专用机箱 串行通讯接口：4个 软件配置：
Windows 7中文 32位正版
（获取微软正版授权）
设备专用控制软件
漏电断路器安全保护
意外断电时系统自动切断总电源，供电时需要人为操作恢复系统正常工作
设备供电部分有漏电保护开关，整机外壳安全接地。
HAST老化试验系统
AS-HAST-53
试验箱内部容积:W*H*L（mm）355*355*426
系统体积:日本原装HAST试验箱+配线系统
适用于各种封装的二极管、半桥、全桥，集成电路，功率模块等进行HAST试验。
试验标准：JESD22-A110、AEC-Q101、JESD22A-118、JESD22-A102
测试板:每块板上40工位，每个工位串联一个保险丝，8个材料并在一起引出一根线接至检测点，外端8个检测点共用一个电流检测装置。测试能力：最大电压200V。
通道分区：4个老化试验通道，2个独立直流电源。每个电源对应2个通道一批材料。
满载容量：40颗/每通道×4通道＝160颗。
电源配置：系统配置二台知名品牌电源，电源规格如下：
试验电源 PS1 PS2
输出电压 0～300V 0～300V
输出电源 0～2.5A 0～2.5A
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